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新能源汽車(chē)驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)高低溫試驗(yàn)艙的溫度循環(huán)試驗(yàn)
2024-12-03
新能源汽車(chē)驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)高低溫試驗(yàn)艙可以用于新能源汽車(chē)驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)部件的高低溫循環(huán)試驗(yàn)，通過(guò)實(shí)時(shí)測(cè)量高低溫試驗(yàn)，可以檢測(cè)受試品（DUT）的溫度響應(yīng)值，確定受試品是否已經(jīng)達(dá)…
高低溫試驗(yàn)箱
電動(dòng)汽車(chē)驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)配件高低溫試驗(yàn)箱
2024-12-03
電動(dòng)汽車(chē)驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)配件高低溫試驗(yàn)箱可以在低溫、高溫條件下，對(duì)電動(dòng)汽車(chē)驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)配件的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測(cè)試，測(cè)試后，通過(guò)檢測(cè)，來(lái)判斷產(chǎn)品的性能，是否仍…
高低溫試驗(yàn)箱
貨運(yùn)無(wú)人機(jī)系統(tǒng)高溫低溫試驗(yàn)機(jī)的技術(shù)方案
2024-11-25
貨運(yùn)無(wú)人機(jī)無(wú)論在運(yùn)輸過(guò)程中還是找固定場(chǎng)所貯存、執(zhí)行任務(wù)中等情況下，都會(huì)面臨溫度的考驗(yàn)，為了模擬無(wú)人機(jī)的溫度使用環(huán)境，我們可以使用貨運(yùn)無(wú)人機(jī)系統(tǒng)高溫低溫試驗(yàn)機(jī)來(lái)完…
高低溫試驗(yàn)箱
無(wú)人機(jī)系統(tǒng)溫度測(cè)試試驗(yàn)箱的溫度試驗(yàn)方法
2024-11-25
無(wú)人機(jī)系統(tǒng)溫度測(cè)試試驗(yàn)箱可以用于無(wú)人機(jī)的溫度模擬試驗(yàn)，其中包括了高低溫存儲(chǔ)試驗(yàn)、高低溫工作試驗(yàn)。下面我們來(lái)了解一下無(wú)人機(jī)系統(tǒng)的高低溫相關(guān)試驗(yàn)方法及要求。無(wú)人機(jī)溫…
高低溫試驗(yàn)箱
貨運(yùn)無(wú)人機(jī)系統(tǒng)高低溫試驗(yàn)箱
2024-11-25
無(wú)人機(jī)在從出廠到退役的壽命周期內(nèi)，不可避免的要受到溫度的影響，貨運(yùn)無(wú)人機(jī)系統(tǒng)高低溫試驗(yàn)箱則可以模擬無(wú)人機(jī)使用過(guò)程中的溫度，從而判斷無(wú)人機(jī)的環(huán)境適應(yīng)性，由于每臺(tái)機(jī)…
高低溫試驗(yàn)箱
高低溫試驗(yàn)室
2024-11-14
我們的高低溫試驗(yàn)室覆蓋容積從4m3到260m3，溫度范圍從-70℃到+200℃（250℃），相對(duì)濕度從10%R.H.到98%R.H.，控制器從微芯片LED顯示器…
高低溫試驗(yàn)箱
Flash器件高低溫擦寫(xiě)性能試驗(yàn)箱的測(cè)試方法
2024-11-04
為了研究FLASH芯片的壞區(qū)增長(zhǎng)與擦寫(xiě)次數(shù)為怎樣的關(guān)系，目前尚未有實(shí)際實(shí)物參照數(shù)據(jù)。下面使用Flash器件高低溫擦寫(xiě)性能試驗(yàn)箱，通過(guò)FLASH芯片壽命試驗(yàn)，在地…
高低溫試驗(yàn)箱
NAND Flash高低溫篩選試驗(yàn)機(jī)在Flash的溫變規(guī)律研究
2024-11-04
為了研究Flash存儲(chǔ)器在不同溫度下的性能變化的機(jī)理和溫變規(guī)律，評(píng)估其空間應(yīng)用的可行性，為Flash器件在空間型號(hào)任務(wù)的應(yīng)用提供試驗(yàn)依據(jù)和改進(jìn)建議。在溫變規(guī)律研…
高低溫試驗(yàn)箱
Flash高低溫試驗(yàn)箱
2024-11-04
Flash高低溫試驗(yàn)箱可用于研究Flash存儲(chǔ)器在不同溫度下的性能變化的機(jī)理和溫變規(guī)律，評(píng)估其空間應(yīng)用的可行性，為Flash器件在空間型號(hào)任務(wù)的應(yīng)用提供試驗(yàn)依據(jù)…
高低溫試驗(yàn)箱
EMMC高低溫循環(huán)試驗(yàn)箱的技術(shù)方案
2024-11-01
EMMC高低溫循環(huán)試驗(yàn)箱可針對(duì)NAND Flash、UFS芯片進(jìn)行高速、高低溫度范圍的全功能動(dòng)態(tài)老化測(cè)試。針對(duì)集成NAND和Controller的模組芯片（例如…
高低溫試驗(yàn)箱
eMMC存儲(chǔ)芯片高低溫老化箱的測(cè)試方法
2024-11-01
eMMC存儲(chǔ)芯片高低溫老化箱可對(duì)eMMC（EmbeddedMulti Media Card，嵌入式多媒體卡）、SSD（Solid State Disk，固態(tài)硬盤(pán)…
高低溫試驗(yàn)箱
eMMC高低溫試驗(yàn)箱
2024-11-01
eMMC高低溫試驗(yàn)箱是一款專門(mén)針對(duì)eMMC、UFS、eMCP等顆粒存儲(chǔ)芯片進(jìn)行高低溫老化的設(shè)備。設(shè)備采用可程式系統(tǒng)控制，能夠同時(shí)支持大批量芯片同步老化測(cè)試，腔體…
高低溫試驗(yàn)箱
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