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對于 LED 光源的可靠性失效分析，一般采用加大應力 (如高溫應力和濕度應力等) 的方法對樣品進行加速老化 ，這樣可在短時間內(nèi)得到樣品失效信息并對其可靠性進行分析。下面，我們以高溫應力和濕度應力作為常見的老化條件，為大家講解LED光源在高溫高濕條件下的失效原理。
LED高溫高濕失效應力分析：
試驗設(shè)備：環(huán)儀儀器 LED光源溫濕度應力試驗箱
試驗標準：JESD 22-A101C、IEC60068-2-30等
試驗方式：
LED在溫濕度下的工作壽命試驗是利用恒定的溫度、濕度和電流對進行加速老化，根據(jù)試驗結(jié)果得出在此溫濕度下的工作壽命。
① 高溫高濕工作壽命(WHTOL): 評估 LED 封裝在工作期間因溫度和濕度引起的應力下的性能。使用高溫、高濕度的方法，加速環(huán)境水汽透過外部保護材料或沿著外部保護材料和連接它的金屬導體之間的界面滲透到器件內(nèi)部，可能導致可靠性降低。
WITOL是LED 電子元器件中最常見也最重要的評估試驗。最常見的高溫高濕條件為雙 85，即溫度為 85℃，濕度為85% RH。LED 封裝應根據(jù) JESD 22-A101C 進行試驗:每項試驗應至少使用3個不同批次的78 個 LED 封裝每批次為 26個。在最大額定工作電流下通電，1h開，1 h 關(guān)為一個循環(huán)，循環(huán)持續(xù) 1 000 h，試驗溫度為 85 ℃、相對濕度為 85%。
②濕熱循環(huán)(DHC): 評估 LED 封裝在溫度和濕度循環(huán)引起的應力下的性能，LED封裝應根據(jù) IEC60068-2-30 進行試驗。
如有LED光源的濕熱試驗疑問，可以咨詢環(huán)儀儀器相關(guān)技術(shù)人員。
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