《GB/T 12085.22-2022 光學(xué)和光子學(xué) 環(huán)境試驗(yàn)方法 第22部分: 低溫、高溫或溫度變化與碰撞或隨機(jī)振動(dòng)綜合試驗(yàn)》是中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)，屬于光學(xué)和光子學(xué)領(lǐng)域。該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了在實(shí)驗(yàn)室條件下進(jìn)行光學(xué)和光子學(xué)設(shè)備的綜合環(huán)境試驗(yàn)方法，涵蓋了低溫、高溫、溫度變化、碰撞和隨機(jī)振動(dòng)等多個(gè)環(huán)境因素的綜合試驗(yàn)。

一、范圍：
本文件描述了光學(xué)和光子學(xué)低溫，高溫或溫度變化與碰撞或隨機(jī)振動(dòng)綜合試驗(yàn)的環(huán)境試驗(yàn)方法。
本文件適用于光學(xué)和光子學(xué)儀器以及來(lái)自其他領(lǐng)域的組件(如機(jī)械、化學(xué)和電子設(shè)備)的低溫、高溫或溫度變化與碰撞或隨機(jī)振動(dòng)綜合試驗(yàn)。

二、試驗(yàn)項(xiàng)目：
溫度、振動(dòng)綜合試驗(yàn)。

三、試驗(yàn)設(shè)備：
綜合試驗(yàn)箱。

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五、試驗(yàn)程序（部分）：

若進(jìn)行溫度變化測(cè)試,則所需要的暴露時(shí)間從溫度變化開始時(shí)啟動(dòng)。試樣和試驗(yàn)箱(室)溫度應(yīng)相同。

光學(xué)和光子學(xué)儀器試驗(yàn)應(yīng)采用半正弦脈沖。試樣應(yīng)沿每個(gè)軸向每一方向經(jīng)受1 000次沖擊，或確定具體的沖擊次數(shù)。

隨機(jī)振動(dòng)用數(shù)字控制的方式進(jìn)行。加速度功率譜密度應(yīng)采用按GB/T 2423.56的振動(dòng)控制系統(tǒng)進(jìn)行控制。

其他參數(shù)如低溫或高溫﹑溫度變化，隨機(jī)振動(dòng)類型、溫度暴露時(shí)間，振動(dòng)暴露時(shí)間，沖擊次數(shù).沖擊重復(fù)頻率、沖擊或振動(dòng)軸、運(yùn)行狀態(tài)等，應(yīng)在相關(guān)規(guī)范中規(guī)定。

綜合環(huán)境試驗(yàn)是為了模擬光學(xué)和光子學(xué)設(shè)備在實(shí)際使用中可能遇到的復(fù)雜環(huán)境條件，包括溫度變化、碰撞和振動(dòng)等。這些試驗(yàn)有助于評(píng)估設(shè)備在這些條件下的性能和可靠性，以確保其在實(shí)際應(yīng)用中能夠正常工作。這對(duì)于需要在惡劣環(huán)境條件下使用的光學(xué)和光子學(xué)設(shè)備非常重要，如衛(wèi)星通信設(shè)備、激光測(cè)量?jī)x器、航天器載荷等。通過(guò)進(jìn)行綜合環(huán)境試驗(yàn)，可以確定設(shè)備的耐受性，以減少在實(shí)際使用中的故障風(fēng)險(xiǎn)。